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Mo/Si原子高能量沉积中反射和再溅射的研究 期刊论文
光学学报, 2020, 卷号: 40, 期号: 11, 页码: 46-53
作者:  孙诗壮;  金春水;  喻波;  郭涛;  姚舜;  李春;  邓文渊
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原子与分子物理学  分子动力学  反射  再溅射  Mo/Si原子  角度分布  能量分布  
Mo/Si多层膜表面粗糙度相关镀膜工艺的研究 期刊论文
光学学报, 2020, 卷号: 40, 期号: 10, 页码: 196-202
作者:  孙诗壮;  金春水;  喻波;  郭涛;  姚舜;  李春;  邓文渊
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薄膜  Mo/Si多层膜  极紫外光刻  磁控溅射  表面粗糙度  功率谱密度  
快速反射镜在像移补偿中的应用 期刊论文
中国光学, 2020, 卷号: 13, 期号: 01, 页码: 95-105
作者:  王正玺;  张葆;  李贤涛;  张士涛
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快速反射镜  像移补偿  像移速度  模型参考自适应控制  
Characterization of carrier transport behavior of specific type dislocations in GaN by light assisted KPFM 期刊论文
Journal of Physics D-Applied Physics, 2020, 卷号: 53, 期号: 23, 页码: 6
作者:  C. H. Kai,X. J. Sun,Y. P. Jia,K. Jiang,Z. M. Shi,J. W. Ben,Y. Wu,Y. Wang and D. B. Li
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Research and Experiment of Repairable Space Telescope Interface System 期刊论文
Ieee Access, 2020, 卷号: 8, 页码: 225097-225108
作者:  Z. Shi,W. G. Zhao,L. B. Yang,Y. Xun,Q. Y. Li and Y. Y. Zhang
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Improved nucleation of AlN on in situ nitrogen doped graphene for GaN quasi-van der Waals epitaxy 期刊论文
Applied Physics Letters, 2020, 卷号: 117, 期号: 5, 页码: 5
作者:  Y. Chen,H. Zang,K. Jiang,J. W. Ben,S. L. Zhang,Z. M. Shi,Y. P. Jia,W. Lu,X. J. Sun and D. B. Li
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A new droplet breakup phenomenon in electrokinetic flow through a microchannel constriction 期刊论文
Electrophoresis, 2020, 卷号: 41, 期号: 10-11, 页码: 758-760
作者:  X. Ji,T. Zhou,Y. B. Deng,L. Y. Shi,X. M. Zhang and S. W. Joo
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In situ fabrication of Al surface plasmon nanoparticles by metal-organic chemical vapor deposition for enhanced performance of AlGaN deep ultraviolet detectors 期刊论文
Nanoscale Advances, 2020, 卷号: 2, 期号: 5, 页码: 1854-1858
作者:  Y. Wu,X. J. Sun,Z. M. Shi,Y. P. Jia,K. Jiang,J. W. Ben,C. H. Kai,Y. Wang,W. Lu and D. B. Li
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Off-Chip Vertical Step Emulsification Droplets Preparation Device Applied for Droplet Digital PCR 期刊论文
Advanced Materials Interfaces, 2020, 卷号: 7, 期号: 22, 页码: 7
作者:  B. Shi,D. Wu,Y. Y. Jiang,J. R. An and W. M. Wu
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Low-Cost Battery-Powered and User-Friendly Real-Time Quantitative PCR System for the Detection of Multigene 期刊论文
Micromachines, 2020, 卷号: 11, 期号: 4, 页码: 9
作者:  J. R. An,Y. Y. Jiang,B. Shi,D. Wu and W. M. Wu
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