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Carrier behavior in the vicinity of pit defects in GaN characterized by ultraviolet light-assisted Kelvin probe force microscopy 期刊论文
SCIENCE CHINA-PHYSICS MECHANICS & ASTRONOMY, 2019, 卷号: 62, 期号: 6, 页码: 6
作者:  Kai, CuiHong;  Sun, XiaoJuan;  Jia, YuPing;  Shi, ZhiMing;  Jiang, Ke;  Ben, JianWei;  Wu, You;  Wang, Yong;  Liu, HeNan;  Li, XiaoHang;  Li, DaBing
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pit defects  surface potential  electron concentration  
Influence of Dislocations on the Refractive Index of AlN by Nanoscale Strain Field 期刊论文
Nanoscale Research Letters, 2019, 卷号: 14, 期号: 1
作者:  Ben,Jianwei;  Sun,Xiaojuan;  Jia,Yuping;  Jiang,Ke;  Shi,Zhiming;  Wu,You;  Kai,Cuihong;  Wang,Yong;  Luo,Xuguang;  Feng,Zhe Chuan;  Li,Dabing
收藏  |  浏览/下载：296/0  |  提交时间：2019/08/21
Refractive index  AlN  Threading dislocation density  Nanoscale strain field around dislocations  
固态继电器过载失效与浪涌抑制电路参数设计 期刊论文
长春理工大学学报(自然科学版), 2019, 卷号: 42, 期号: 04, 页码: 15-21
作者:  胡雪岩;  王永成;  贲广利
caj(4476Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：162/36  |  提交时间：2020/08/24
固态继电器  浪涌电流  浪涌抑制  计算仿真  空间载荷  
基于C8051F020单片机的双接口OLED控制器设计与实现 期刊论文
现代电子技术, 2019, 卷号: 42, 期号: 04, 页码: 14-18
作者:  武春锋;  王永伟;  王志乾;  刘绍锦;  刘玉生
caj(1805Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：119/39  |  提交时间：2020/08/24
有机电致发光二极管  C8051F020单片机  控制器  SSD1309芯片  双接口  判忙函数