中文版 | English

在结果中检索

CIOMP OpenIR

浏览/检索结果: 共8条，第1-8条 帮助

限定条件    
已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
Controllable Synthesis and Surface-enhanced Upconversion Luminescence of Ultra-thin Gold Shell Coated NaYF4: Yb, Er@SiO2 Nanostructures 期刊论文
Faguang Xuebao/Chinese Journal of Luminescence, 2018, 卷号: 39, 期号: 11, 页码: 1505-1512
作者:  An, Xi-Tao;  Wang, Yue;  Mu, Jia-Jia;  Li, Jing;  Zhang, Li-Gong;  Luo, Yong-Shi;  Chen, Li
浏览  |  Adobe PDF(4723Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：450/99  |  提交时间：2019/09/17
Gold coatings  Curve fitting  Energy transfer  Finite difference time domain method  Fluorescence  Forster resonance energy transfer  Laser excitation  Nanoshells  Nanostructured materials  Shells (structures)  Silica  Spectrum analysis  Surface plasmons  
透镜中心厚度测量系统光学设计 期刊论文
激光与光电子学进展, 2016, 期号: 3, 页码: 94-100
作者:  周勇;  郭帮辉;  王潇询;  孙强
caj(1367Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：327/73  |  提交时间：2017/09/17
光学设计  色差共焦  透镜中心厚度测量  测量范围  
透镜中心厚度测量系统出射光光谱的研究 期刊论文
激光与光电子学进展, 2015, 期号: 08, 页码: 154-160
作者:  周勇;  郭帮辉;  李灿;  孙强
caj(1282Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：246/88  |  提交时间：2016/07/06
测量  色差共焦  透镜中心厚度测量系统  出射光光谱  测量精度  系统设计  
Experimental Study of Differential Spectrum Method for Elimination of Tissue Background in Noninvasive Biochemical Detection 期刊论文
Spectroscopy and Spectral Analysis, 2012, 卷号: 32, 期号: 9, 页码: 2347-2350
作者:  Ding H. Q.;  Lu Q. P.;  Gao H. Z.
Adobe PDF(589Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：428/104  |  提交时间：2013/03/27
光谱共焦位移传感器测量透明材料厚度的应用 期刊论文
光机电信息, 2011, 卷号: 28, 期号: 9, 页码: 50-53
作者:  朱万彬
Adobe PDF(310Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：874/352  |  提交时间：2012/05/11
纳米级薄膜厚度的精确测量 期刊论文
光机电信息, 2010, 卷号: 27, 期号: 10, 页码: 45-49
作者:  张立超
Unknown(472Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：383/132  |  提交时间：2012/09/25
Determination of anisotropic liquid crystal layer parameters by spectroscopic ellipsometer 期刊论文
Acta Physica Sinica, 2006, 卷号: 55, 期号: 3, 页码: 1055-1060
作者:  Mu Q. Q.;  Liu Y. J.;  Hu L. F.;  Li D. Y.;  Cao Z. L.;  Xuan L.
Adobe PDF(229Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：584/202  |  提交时间：2012/10/21
多层光学薄膜周期厚度的双晶X射线掠入射研究 期刊论文
光学技术, 1998, 期号: 05, 页码: 37-39
作者:  李学千;  宋晓伟;  曲轶;  李梅;  张兴德
caj(57Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：475/85  |  提交时间：2013/03/11
X射线衍射  掠入射  多层膜  厚度测量