CIOMP OpenIR

浏览/检索结果: 共7条,第1-7条 帮助

限定条件                    
已选(0)清除 条数/页:   排序方式:
透镜中心厚度测量系统光学设计 期刊论文
激光与光电子学进展, 2016, 期号: 3, 页码: 94-100
作者:  周勇;  郭帮辉;  王潇询;  孙强
caj(1367Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:343/77  |  提交时间:2017/09/17
光学设计  色差共焦  透镜中心厚度测量  测量范围  
透镜中心厚度测量系统出射光光谱的研究 期刊论文
激光与光电子学进展, 2015, 期号: 08, 页码: 154-160
作者:  周勇;  郭帮辉;  李灿;  孙强
caj(1282Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:268/90  |  提交时间:2016/07/06
测量  色差共焦  透镜中心厚度测量系统  出射光光谱  测量精度  系统设计  
Experimental Study of Differential Spectrum Method for Elimination of Tissue Background in Noninvasive Biochemical Detection 期刊论文
Spectroscopy and Spectral Analysis, 2012, 卷号: 32, 期号: 9, 页码: 2347-2350
作者:  Ding H. Q.;  Lu Q. P.;  Gao H. Z.
Adobe PDF(589Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:440/113  |  提交时间:2013/03/27
光谱共焦位移传感器测量透明材料厚度的应用 期刊论文
光机电信息, 2011, 卷号: 28, 期号: 9, 页码: 50-53
作者:  朱万彬
Adobe PDF(310Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:922/375  |  提交时间:2012/05/11
纳米级薄膜厚度的精确测量 期刊论文
光机电信息, 2010, 卷号: 27, 期号: 10, 页码: 45-49
作者:  张立超
Unknown(472Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:403/142  |  提交时间:2012/09/25
Determination of anisotropic liquid crystal layer parameters by spectroscopic ellipsometer 期刊论文
Acta Physica Sinica, 2006, 卷号: 55, 期号: 3, 页码: 1055-1060
作者:  Mu Q. Q.;  Liu Y. J.;  Hu L. F.;  Li D. Y.;  Cao Z. L.;  Xuan L.
Adobe PDF(229Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:625/223  |  提交时间:2012/10/21
多层光学薄膜周期厚度的双晶X射线掠入射研究 期刊论文
光学技术, 1998, 期号: 05, 页码: 37-39
作者:  李学千;  宋晓伟;  曲轶;  李梅;  张兴德
caj(57Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:496/88  |  提交时间:2013/03/11
X射线衍射  掠入射  多层膜  厚度测量