中文版 | English

在结果中检索

CIOMP OpenIR

浏览/检索结果: 共3条，第1-3条 帮助

限定条件        
已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
Modeling multilayer coating profiles with defects on EUV collector with grating 期刊论文
Optical Engineering, 2019, 卷号: 58, 期号: 10, 页码: 9
作者:  S.Z.Sun;  C.S.Jin;  B.Yu;  T.Guo;  S.Yao;  W.Y.Deng;  C.Li
浏览  |  Adobe PDF(1912Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：246/55  |  提交时间：2020/08/24
EUV collector with grating,multilayer coating profile,coating defects,deposition model,EUV reflectance,lithography,Optics  
Line-scan system for continuous hand authentication 期刊论文
Optical Engineering, 2017, 卷号: 56, 期号: 3
作者:  Liu, X. F.;  L. S. Kong;  Z. H. Diao and P. Jia
浏览  |  Adobe PDF(1954Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：355/105  |  提交时间：2018/06/13
Imaging quality analysis of a KBA x-ray microscope working at grazing incidence 期刊论文
Optical Engineering, 2006, 卷号: 45, 期号: 4
作者:  Hu J. S.;  Zhao L. L.;  Li X.;  Bai Y. H.
Adobe PDF(252Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：633/126  |  提交时间：2012/10/21