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Influence of Dislocations on the Refractive Index of AlN by Nanoscale Strain Field 期刊论文
Nanoscale Research Letters, 2019, 卷号: 14, 期号: 1
作者:  Ben,Jianwei;  Sun,Xiaojuan;  Jia,Yuping;  Jiang,Ke;  Shi,Zhiming;  Wu,You;  Kai,Cuihong;  Wang,Yong;  Luo,Xuguang;  Feng,Zhe Chuan;  Li,Dabing
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Refractive index  AlN  Threading dislocation density  Nanoscale strain field around dislocations  
The defect evolution in homoepitaxial AlN layers grown by high-temperature metal-organic chemical vapor deposition 期刊论文
Crystengcomm, 2018, 卷号: 20, 期号: 19, 页码: 2720-2728
作者:  Jiang, K.;  Sun, X. J.;  Ben, J. W.;  Jia, Y. P.;  Liu, H. N.;  Wang, Y.;  Wu, Y.;  Kai, C. H.;  Li, D. B.
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light-emitting-diodes  screw dislocations  threading dislocations  phase  epitaxy  gan  films  algan  core  edge  generation  Chemistry  Crystallography  
The optimized growth of AlN templates for back-illuminated AlGaN-based solar-blind ultraviolet photodetectors by MOCVD 期刊论文
Journal of Materials Chemistry C, 2018, 卷号: 6, 期号: 18, 页码: 4936-4942
作者:  Chen, Y. R.;  Zhang, Z. W.;  Jiang, H.;  Li, Z. M.;  Miao, G. Q.;  Song, H.
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threading dislocations  nucleation layer  gan  temperature  sapphire  Materials Science  Physics