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点缺陷调控:宽禁带Ⅱ族氧化物半导体的机遇与挑战 期刊论文
物理学报, 2019, 卷号: 68, 期号: 16, 页码: 76-90
作者:  谢修华;  李炳辉;  张振中;  刘雷;  刘可为;  单崇新;  申德振
caj(2096Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：155/40  |  提交时间：2020/08/24
宽禁带  点缺陷  掺杂  离化能  
Ultraviolet electroluminescence from a n-ZnO film/p-GaN heterojunction under both forward and reverse bias 期刊论文
JOURNAL OF MATERIALS CHEMISTRY C, 2018, 卷号: 6, 期号: 42, 页码: 11368-11373
作者:  Ai, Qiu;  Liu, Kewei;  Ma, Hongyu;  Yang, Jialin;  Chen, Xing;  Li, Binghui;  Shen, Dezhen
收藏  |  浏览/下载：197/0  |  提交时间：2019/08/21
Reversible manipulation of lattice defects in single-crystal SnO2 microrod by applying mechanical stress and voltage 期刊论文
Journal of Applied Physics, 2018, 卷号: 125, 期号: 8
作者:  Sakurai, Makoto;  Liu, Kewei;  Aono, Masakazu
Adobe PDF(2971Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：236/86  |  提交时间：2019/09/17
Semiconducting tin compounds  Defects  Single crystals  Transmission electron microscopy