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| 基于微光学阵列元件的二维位移测量装置 专利 专利类型: 发明, 专利号: 201210088617.4, 申请日期: 2014-05-28, 公开日期: 2014-05-28 发明人: 卢振武; 刘华; 王尧; 孙强 Adobe PDF(647Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:321/80  |  提交时间:2015/02/10 |
| 线位移测量方法及测量装置 (发明) 专利 专利类型: 发明专利, 申请日期: 2012-08-01, 公开日期: 2012-08-29 发明人: 吴宏圣; 孙强; 曾琪峰; 卢振武; 乔栋 Adobe PDF(584Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:609/77  |  提交时间:2012/08/29 |
| 光栅尺标尺光栅铣磨面直线度误差的非接触自动检测装置 (发明) 专利 专利类型: 发明专利, 申请日期: 2012-07-25, 公开日期: 2012-08-29 发明人: 张吉鹏; 孙强; 谭向全; 卢振武 Adobe PDF(396Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:555/72  |  提交时间:2012/08/29 |
| 基于微光学阵列元件的二维位移测量装置 (发明) 专利 专利类型: 发明专利, 申请日期: 2012-07-25, 公开日期: 2012-08-29 发明人: 卢振武; 刘华; 王尧; 孙强 Adobe PDF(490Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:412/52  |  提交时间:2012/08/29 |
| 光栅线位移传感器指示光栅间隙检测装置 (发明) 专利 专利类型: 发明专利, 申请日期: 2012-07-25, 公开日期: 2012-08-29 发明人: 张吉鹏; 黄剑波; 卢振武; 孙强; 乔栋; 杨帆; 续志军 Adobe PDF(265Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:502/52  |  提交时间:2012/08/29 |
| 光栅线位移测量方法及测量装置 (发明) 专利 专利类型: 发明专利, 申请日期: 2012-07-25, 公开日期: 2012-08-29 发明人: 吴宏圣; 卢振武; 乔栋; 孙强; 赵建; 曾琪峰 Adobe PDF(500Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:450/51  |  提交时间:2012/08/29 |
| 具有修正扭转误差功能的位移检测系统 (发明) 专利 专利类型: 发明专利, 申请日期: 2012-07-04, 公开日期: 2012-08-29 发明人: 曾琪峰; 吴宏圣; 乔栋; 孙强; 卢振武 Adobe PDF(354Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:498/82  |  提交时间:2012/08/29 |
| 一种在三维任意曲面上复制微纳结构的方法 (发明) 专利 专利类型: 发明专利, 申请日期: 2012-06-13, 公开日期: 2012-06-13 发明人: 鱼卫星; 张登英; 卢振武; 孙强 Adobe PDF(1400Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:515/101  |  提交时间:2012/08/29 |
| 多光学系统光轴平行性检测仪 (发明) 专利 专利类型: 发明专利, 申请日期: 2011-01-19, 公开日期: 2011-01-19 发明人: 叶露; 赵强; 张馥生 Adobe PDF(309Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:395/78  |  提交时间:2012/08/29 |
| 光电跟踪设备对低对比度目标捕获能力的检验方法 (发明) 专利 专利类型: 发明专利, 申请日期: 2010-09-29, 公开日期: 2012-08-29 发明人: 叶露; 谷立山; 赵强 Adobe PDF(340Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:486/96  |  提交时间:2012/08/29 |