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Study on a wideband, variable aperture, high resolution scatterometer for planar diffraction grating stray light measurement 期刊论文
Applied Optics, 2017, 卷号: 56, 期号: 2
作者:  Yang, J.;  R. Zhang;  L. Yin;  C. Sun and T. J. Li
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Small-size, high-resolution angular displacement measurement technology based on an imaging detector 期刊论文
Applied Optics, 2017, 卷号: 56, 期号: 3
作者:  Yu, H.;  Q. H. Wan;  X. R. Lu;  Y. C. Du and S. W. Yang
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High-accuracy spectral reduction algorithm for the echelle spectrometer 期刊论文
Applied Optics, 2016, 卷号: 55, 期号: 13
作者:  Yin, L.;  Bayanheshig;  J. Yang;  Y. X. Lu;  R. Zhang;  C. Sun and J. C. Cui
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Wavelength calibration model for prism-type echelle spectrometer by reversely solving prism's refractive index in real time 期刊论文
Applied Optics, 2016, 卷号: 55, 期号: 15
作者:  Zhang, R.;  Bayanheshig;  L. Yin;  X. T. Li;  J. C. Cui;  J. Yang and C. Sun
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