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Rapid identification of micro and nanoplastics by line scan Raman micro-spectroscopy 期刊论文
Talanta, 2024, 卷号: 266, 页码: 8
作者:  Q. Y. Wu, D. Y. Xiao, N. Wang, F. Masia, W. Langbein and B. Li
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航空机载红外图像的车辆目标自主检测识别 期刊论文
激光与红外, 2023, 卷号: 53, 期号: 12, 页码: 1877-1884
作者:  杨雪;  修吉宏;  刘小嘉;  罗宁
浏览  |  Adobe PDF(1645Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:8/3  |  提交时间:2024/08/16
高数值孔径宽谱段折反射式物镜设计 期刊论文
光学学报, 2023, 卷号: 43, 期号: 19, 页码: 265-271
作者:  王超;  曲贺盟;  管海军;  王哈;  张继真;  谢晓麟;  王宁
浏览  |  Adobe PDF(1235Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:5/2  |  提交时间:2024/08/16
空间低温绝对辐射初级基准实验特性及测量精度评估 期刊论文
光学精密工程, 2021, 卷号: 29, 期号: 01, 页码: 10-20
作者:  衣小龙;  方伟;  林延东;  王玉鹏;  徐楠;  隋龙;  陈六彪;  夏志伟;  王凯;  叶新
浏览  |  Adobe PDF(1762Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:242/81  |  提交时间:2022/06/29
Electrical transport properties of EuTe under high pressure 期刊论文
Journal of Materials Chemistry C, 2021, 卷号: 9, 期号: 48, 页码: 17371-17381
作者:  Y. Li;  J. Liu;  P. Zhang;  Q. Jing;  X. Liu;  J. Zhang;  N. Xiao;  L. Yu and P. Niu
浏览  |  Adobe PDF(5374Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:172/39  |  提交时间:2022/06/13
中国空间辐射测量基准技术 期刊论文
遥感学报, 2020, 卷号: 24, 期号: 06, 页码: 672-680
作者:  卢乃锰;  丁雷;  郑小兵;  叶新;  李传荣;  吕达仁;  张鹏;  胡秀清;  周成虎;  尤政;  房建成;  龚建雅;  蒋兴伟;  李建军;  马灵玲;  徐娜
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空间辐射测量  基准  卫星  溯源  技术  
高时空分辨率动态星模拟器设计 期刊论文
光学精密工程, 2020, 卷号: 28, 期号: 03, 页码: 515-525
作者:  李成浩;  何煦;  姬琪;  张晓辉;  李宁
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空间望远镜  运动导星  稳像精度  硅基液晶  物镜  误差模型  
Dual LSPR of Au/W18O49 heterostructures for upconversion enhancement and application of molecular detection 期刊论文
Journal of Materials Chemistry A, 2020, 卷号: 8, 期号: 7, 页码: 4040-4048
作者:  Y. Yang,Y. Cong,X. Lin,B. S. Cao,D. P. Dong,K. C. Liu,Y. Xiao,J. Y. Shang,Y. N. Bao,Y. Liu,G. Q. Fang,Y. Wang,Y. Q. Chen,J. H. Zhang and B. Dong
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Model of radial basis functions with slope-based shape factor and distribution for optical freeform surface 期刊论文
Optical Engineering, 2020, 卷号: 59, 期号: 12, 页码: 13
作者:  L. C. Xiao,K. N. Tong,L. P. Song,L. J. Wang,P. F. Wu,W. W. Liu and X. Zhao
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Electrical transport properties of Weyl semimetal WTe2 under high pressure 期刊论文
Journal of Materials Science, 2020, 卷号: 55, 期号: 30, 页码: 14873-14882
作者:  Y. Q. Li,J. X. Liu,P. G. Zhang,J. X. Zhang,N. R. Xiao,L. Y. Yu and P. J. Niu
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