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Detection of an ordered-structure fraction in amorphous silicon 期刊论文
Journal of Applied Crystallography, 2016, 卷号: 49
作者:  Wang, X. D.;  B. Chen;  H. F. Wang;  X. Zheng;  S. J. Liu;  J. B. Wang;  B. Li;  S. M. Yu and Z. X. Cui
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