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Evaluation of Charged Defect Energy in Two-Dimensional Semiconductors for Nanoelectronics: The WLZ Extrapolation Method 期刊论文
Annalen Der Physik, 2020, 卷号: 532, 期号: 3, 页码: 13
作者:  S. Xia,D. Wang,N. K. Chen,D. Han,X. B. Li and H. B. Sun
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