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Decision-Level Defect Prediction Based on Double Focuses 期刊论文
Chinese Journal of Electronics, 2017, 卷号: 26, 期号: 2
作者:  Hu, C. H.;  X. C. Xue;  L. Huang;  H. Y. Lyu;  H. Q. Wang;  X. Z. Li;  H. L. Liu;  M. Sun and W. Sun
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All-Aluminum Thin Film Transistor Fabrication at Room Temperature 期刊论文
Materials, 2017, 卷号: 10, 期号: 3
作者:  Yao, R. H.;  Z. K. Zheng;  Y. Zeng;  X. Z. Liu;  H. L. Ning;  S. B. Hu;  R. Q. Tao;  J. Q. Chen;  W. Cai;  M. Xu;  L. Wang;  L. F. Lan and J. B. Peng
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