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Study of influence of the removal depth of the silicon modification layer on grating structures in reaction-sintered silicon carbide substrate and improvement method 期刊论文
Applied Optics, 2018, 卷号: 57, 期号: 34, 页码: F1-F7
作者:  Shen, C.;  Tan, X.;  Jiao, Q. B.;  Zhang, W.;  Wang, T. T.;  Li, W. H.;  Wu, N.;  Qi, X. D.;  Bayan, H.
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thermal-oxidation  Optics  
Measuring method of diffraction efficiency for plane grating based on Fourier spectral technology 期刊论文
Applied Optics, 2016, 卷号: 55, 期号: 3
作者:  Ma, Z. Y.;  X. D. Qi;  X. T. Li;  S. W. Zhang;  Bayanheshig;  H. Z. Yu;  H. L. Yu and Q. B. Jiao
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