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一种双标准尺比长仪 (实用新型) 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: 2349532, 申请日期: 1999-11-17, 公开日期: 1999-11-17
发明人:  董德水;  李松泽;  周浩
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光电法真空检漏技术及装置 (发明) 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: 1232175, 申请日期: 1999-10-20, 公开日期: 2012-09-14
发明人:  李会斌;  陈红
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