Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 一种双标准尺比长仪 （实用新型） | |
| 董德水; 李松泽; 周浩 | |
| 1999-11-17 | |
| 专利权人 | 中国科学院长春光学精密机械研究所 |
| 公开日期 | 1999-11-17 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 摘要 | 一种双标准尺比长仪属于长度计量领域中的一种测量线位移传感器的长度计量装置。采用相同规格的两把标准尺平行对称置于被测线位移传感器两测结构，可消除阿贝误差带来的对测量结果的影响，能够分段滑动测量远比标准尺长度长得多的线位移传感器。具有很高的实用价值。 |
| 申请日期 | 1998-11-26 |
| 专利号 | 2349532 |
| 语种 | 中文 |
| 申请号 | 98233410.9 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/12882 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 董德水,李松泽,周浩. 一种双标准尺比长仪 （实用新型）. 2349532[P]. 1999-11-17. |
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| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN199900234953200000（105KB） | 开放获取 | -- | 浏览 下载 | |||
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