Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 光电法真空检漏技术及装置 （发明） | |
| 李会斌; 陈红 | |
| 1999-10-20 | |
| 专利权人 | 中国科学院长春物理研究所 |
| 公开日期 | 2012-09-14 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 摘要 | 本发明光电法真空检漏技术及装置，是利用磁场束缚电子运动的方法，来激发真空中的气体放电，并用灵敏的光电器件来检测其气体放电的强度和颜色，光激发部分放大气体放电的颜色和强度，光接受部分将这一颜色和强度的变化输出不同的电信号，利用电子学电路产生报警信号。该装置包括机…… |
| 申请日期 | 1998-04-10 |
| 专利号 | 1232175 |
| 语种 | 中文 |
| 申请号 | 98113898.5 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/12690 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李会斌,陈红. 光电法真空检漏技术及装置 （发明）. 1232175[P]. 1999-10-20. |
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| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN199900123217500000（167KB） | 开放获取 | -- | 浏览 下载 | |||
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