中文版 | English

在结果中检索

CIOMP OpenIR

浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助

限定条件        
已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
Decision-Level Defect Prediction Based on Double Focuses 期刊论文
Chinese Journal of Electronics, 2017, 卷号: 26, 期号: 2
作者:  Hu, C. H.;  X. C. Xue;  L. Huang;  H. Y. Lyu;  H. Q. Wang;  X. Z. Li;  H. L. Liu;  M. Sun and W. Sun
浏览  |  Adobe PDF(1764Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：248/55  |  提交时间：2018/06/13