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Decision-Level Defect Prediction Based on Double Focuses 期刊论文
Chinese Journal of Electronics, 2017, 卷号: 26, 期号: 2
作者:  Hu, C. H.;  X. C. Xue;  L. Huang;  H. Y. Lyu;  H. Q. Wang;  X. Z. Li;  H. L. Liu;  M. Sun and W. Sun
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Electrical Derivative Measurement of High-Power InGaAs LDs Under Scanning Current with Variable Step 期刊论文
Chinese Journal of Electronics, 2017, 卷号: 26, 期号: 3
作者:  Tao, M.;  J. Guan;  F. L. Gao;  L. L. Gao and J. S. Cao
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