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一种测量位移量的光学细分干涉方法 （发明） 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: 1048333, 申请日期: 2000-01-12, 公开日期: 2000-01-12
发明人:  廖江红;  卢振武
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双光路光电定心及测量装置 （发明） 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 1989-08-16, 公开日期: 1989-08-16
发明人:  周长新;  刘自能
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