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一种双标准尺比长仪 (实用新型) 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: 2349532, 申请日期: 1999-11-17, 公开日期: 1999-11-17
发明人:  董德水;  李松泽;  周浩
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一种测量微小线位移的传感器 (实用新型) 专利
专利类型: 实用新型, 专利号: 2238417, 申请日期: 1996-10-23, 公开日期: 1996-10-23
发明人:  倪学;  韩雪冰
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