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基于线阵CCD像机图像处理技术的变形集中测量系统 (发明) 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2009-10-21, 公开日期: 2009-10-21
发明人:  李岩;  王建军;  王心醉
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用热垂线检验光电测量设备红外光轴方位指向变化的方法 (发明) 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2009-06-24, 公开日期: 2009-06-24
发明人:  沈湘衡;  张波;  姬琪;  王红园
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微小位移变形高精度、非接触式测量系统及测量方法 (发明) 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2009-05-27, 公开日期: 2012-08-29
发明人:  王志乾;  刘绍锦;  赵雁;  李建荣;  沈铖武;  刘畅;  耿天文;  李冬宁
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