微小位移变形高精度、非接触式测量系统及测量方法 (发明)

	微小位移变形高精度、非接触式测量系统及测量方法 (发明)
	王志乾; 刘绍锦; 赵雁; 李建荣; 沈铖武; 刘畅; 耿天文; 李冬宁
	2009-05-27
专利权人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期	2012-08-29
专利类型	发明专利
摘要	本发明涉及微小位移变形高精度、非接触式测量系统及测量方法。用于测量导弹发射车发射架的微小变形量。系统主要由目标靶１、光学镜头２、面阵ＣＣＤ３、处理电路４组成。通过在发射架上安装目标靶１，利用光学镜头２将目标靶成像到面阵ＣＣＤ３上，能够根据目标靶１在面阵ＣＣＤ３上的成像位置，通过处理计算推算出发射架５与光轴６的夹角，从而……
资助项目	101441065
申请号	200810051100.1
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11562
专题	中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	王志乾,刘绍锦,赵雁,等. 微小位移变形高精度、非接触式测量系统及测量方法 (发明)[P]. 2009-05-27.