基于线阵CCD像机图像处理技术的变形集中测量系统 (发明)

	基于线阵CCD像机图像处理技术的变形集中测量系统 (发明)
	李岩; 王建军; 王心醉
	2009-10-21
专利权人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期	2009-10-21
专利类型	发明专利
摘要	本发明属于图像处理技术领域，涉及一种基于线阵ＣＣＤ像机图像处理技术的变形集中测量系统，采用工业成品线阵ＣＣＤ像机获取物体表面图像数据，利用采集与传输控制模块和网络交换机实现远距离传输，将线阵ＣＣＤ像机获取物体表面图像数据传递至工控计算机进行集中处理，增加了系统信号抗干扰能力，提高了系统可靠性和可维护性；由于改变了工作模……
资助项目	100553221
申请号	200610016872.2
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11458
专题	中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	李岩,王建军,王心醉. 基于线阵CCD像机图像处理技术的变形集中测量系统 (发明)[P]. 2009-10-21.