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Origination and evolution of point defects in AlN film annealed at high temperature 期刊论文
Journal of Luminescence, 2021, 卷号: 235
作者:  C. Kai;  H. Zang;  J. Ben;  K. Jiang;  Z. Shi;  Y. Jia;  X. Cao;  W. Lu;  X. Sun and D. Li
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