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Speckle pattern sequential extraction metric for estimating the focus spot size on a remote diffuse target 期刊论文
Applied Optics, 2017, 卷号: 56, 期号: 32
作者:  Yu, Z.;  Y. Y. Li;  L. S. Liu;  J. Guo;  T. F. Wang and G. Q. Yang
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Extended shift-rotation method for absolute interferometric testing of a spherical surface with pixel-level spatial resolution 期刊论文
Applied Optics, 2017, 卷号: 56, 期号: 16
作者:  Liu, Y.;  L. Miao;  W. L. Zhang;  C. S. Jin and H. T. Zhang
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