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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
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InGaAs探测器总剂量辐照性能试验分析
期刊论文
传感技术学报, 2015, 期号: 01, 页码: 19-22
作者:
张航
;
刘栋斌
;
李帅
;
孙振亚
;
王文全
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提交时间:2016/07/06
Ingaas探测器
损伤机理
总剂量辐射
暗电流
响应度
线阵探测器KLI-2113总剂量辐照性能试验分析
期刊论文
发光学报, 2013, 期号: 05, 页码: 611-616
作者:
张航
;
刘栋斌
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提交时间:2014/03/07
电荷耦合器件
总剂量辐射
暗电流
电荷转移效率
损伤机理
线阵CCD性能指标测试软件设计
期刊论文
光机电信息, 2011, 卷号: 28, 期号: 7, 页码: 41-45
作者:
马天波
;
刘辉
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提交时间:2012/05/11
TDI_CCD总剂量辐射效应及测试
期刊论文
光学精密工程, 2009, 卷号: 12, 期号: 17
作者:
张立国
;
刘则洵
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浏览/下载:432/88
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提交时间:2012/09/25
SRAM_ROM的总剂量辐射效应及损伤分析
期刊论文
光学精密工程, 2009, 卷号: 4, 期号: 17, 页码: 788
作者:
任建岳
;
金龙旭
caj(190Kb)
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提交时间:2012/09/25
空间光学遥感器中Flash存储器的辐射效应与加固
期刊论文
光学精密工程, 2008, 期号: 10
作者:
张立国
;
任建岳
caj(133Kb)
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浏览/下载:339/63
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提交时间:2012/09/25