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An improved method and experimental results of noise used as reliability estimation for semiconductor lasers 期刊论文
Optics and Laser Technology, 2003, 卷号: 35, 期号: 6, 页码: 481-483
作者:  Hu G. J.;  Shi J. W.;  Shi Y. X.;  Yang X. S.;  Li J.
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Noise as reliability screening for semiconductor lasers 期刊论文
Applied Physics B-Lasers and Optics, 2003, 卷号: 76, 期号: 4, 页码: 359-363
作者:  Guijun H.;  Jiawei S.;  Xiaosong Y.;  Jing L.
Adobe PDF(1545Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：260/17  |  提交时间：2012/10/21