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Noise as reliability screening for semiconductor lasers
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Guijun H.; Jiawei S.; Xiaosong Y.; Jing L.
2003
发表期刊Applied Physics B-Lasers and Optics
ISSN0946-2171
卷号76期号:4页码:359-363
摘要The low-frequency electrical noise in semiconductor lasers is measured and used for device-reliability screening, which is a sensitive and non-destructive method. In the experiment, we developed some approaches to improve the validity of reliability screening by using noise criteria. A new method of determining the threshold level of noise criteria is given. The experimental results show that this method is effective.
收录类别SCI ; EI
语种英语
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/26833
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
Guijun H.,Jiawei S.,Xiaosong Y.,et al. Noise as reliability screening for semiconductor lasers[J]. Applied Physics B-Lasers and Optics,2003,76(4):359-363.
APA Guijun H.,Jiawei S.,Xiaosong Y.,&Jing L..(2003).Noise as reliability screening for semiconductor lasers.Applied Physics B-Lasers and Optics,76(4),359-363.
MLA Guijun H.,et al."Noise as reliability screening for semiconductor lasers".Applied Physics B-Lasers and Optics 76.4(2003):359-363.
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