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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
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Revealing the Molar Mass Dependence on Thermal, Microstructural, and Electrical Properties of Direct Arylation Polycondensation Prepared Poly(3-hexylthiophene)
期刊论文
Acs Applied Polymer Materials, 2022, 卷号: 4, 期号: 3, 页码: 1826-1835
作者:
Q. C. Qi
;
Y. Zhong
;
Y. Liu
;
M. Y. Gao
;
Z. X. Peng
;
S. M. Li
;
W. C. Zhao
;
H. Z. Ke
;
J. D. Zhang and L. Ye
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提交时间:2023/06/14
Lumen degradation analysis of LED lamps based on the subsystem isolation method
期刊论文
Applied Optics, 2018, 卷号: 57, 期号: 4, 页码: 849-854
作者:
Ke, H. L.
;
Hao, J.
;
Tu, J. H.
;
Miao, P. X.
;
Wang, C. Q.
;
Cui, J. Z.
;
Sun, Q.
;
Sun, R. T.
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提交时间:2019/09/17
temperature
performance
life
Optics
Determination of cut-off time of accelerated aging test under temperature stress for LED lamps
期刊论文
Frontiers of Information Technology & Electronic Engineering, 2017, 卷号: 18, 期号: 8
作者:
Hao, J.
;
L. Jing
;
H. L. Ke
;
Y. Wang
;
Q. Gao
;
X. X. Wang
;
Q. Sun and Z. J. Xu
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提交时间:2018/06/13
A new optimization method of freeform surface lens based on non-imaging optics for led source
期刊论文
Optik, 2017, 卷号: 134
作者:
Hao, J.
;
H. L. Ke
;
Y. Wang
;
L. Jing
;
H. Liu
;
Q. Sun and Z. Q. Wang
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提交时间:2018/06/13
Disparity between online and offline tests in accelerated aging tests of LED lamps under electric stress
期刊论文
Applied Optics, 2016, 卷号: 55, 期号: 27
作者:
Wang, Y.
;
L. Jing
;
H. L. Ke
;
J. Hao
;
Q. Gao
;
X. X. Wang
;
Q. Sun and Z. J. Xu
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提交时间:2017/09/11
The Design of Two-Step-Down Aging Test for LED Lamps Under Temperature Stress
期刊论文
Ieee Transactions on Electron Devices, 2016, 卷号: 63, 期号: 3
作者:
Hao, J.
;
Q. Sun
;
Z. J. Xu
;
L. Jing
;
Y. Wang and H. L. Ke
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提交时间:2017/09/11
New method of online testing and data processing for LED lamps
期刊论文
Journal of Southeast University (English Edition), 2016, 卷号: 32, 期号: 4
作者:
Hao, J.
;
L. Jing
;
H. Ke
;
Y. Wang
;
Q. Gao
;
X. Wang
;
Q. Sun and Z. Xu
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提交时间:2017/09/11
Estimation of the average junction temperature of two phosphors-converted white LED array based on (B plus Y plus R)/B ratio
期刊论文
Solid-State Electronics, 2016, 卷号: 121
作者:
Ke, H. L.
;
L. Jing
;
J. Hao
;
Q. Gao
;
Y. Wanga
;
X. X. Wang
;
Q. Sun and Z. J. Xu
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提交时间:2017/09/11
Analysis of junction temperature and modification of luminous flux degradation for white LEDs in a thermal accelerated reliability test
期刊论文
Applied Optics, 2016, 卷号: 55, 期号: 22
作者:
Ke, H. L.
;
L. Jing
;
J. Hao
;
Q. Gao
;
Y. Wang
;
X. X. Wang
;
Q. Sun and Z. J. Xu
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提交时间:2017/09/11
Comparison of online and offline tests in LED accelerated reliability tests under temperature stress
期刊论文
Applied Optics, 2015, 卷号: 54, 期号: 33, 页码: 9906-9910
作者:
Ke, H. L.
;
L. Jing
;
Q. Gao
;
Y. Wang
;
J. Hao
;
Q. Sun and Z. J. Xu
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提交时间:2016/07/15