Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| The Design of Two-Step-Down Aging Test for LED Lamps Under Temperature Stress | |
| Hao, J.; Q. Sun; Z. J. Xu; L. Jing; Y. Wang and H. L. Ke | |
| 2016 | |
| 发表期刊 | Ieee Transactions on Electron Devices
 |
| 卷号 | 63期号:3 |
| 文章类型 | 期刊 |
| 收录类别 | SCI ; EI |
| 语种 | 英语 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/56956 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Hao, J.,Q. Sun,Z. J. Xu,et al. The Design of Two-Step-Down Aging Test for LED Lamps Under Temperature Stress[J]. Ieee Transactions on Electron Devices,2016,63(3). |
| APA | Hao, J.,Q. Sun,Z. J. Xu,L. Jing,&Y. Wang and H. L. Ke.(2016).The Design of Two-Step-Down Aging Test for LED Lamps Under Temperature Stress.Ieee Transactions on Electron Devices,63(3). |
| MLA | Hao, J.,et al."The Design of Two-Step-Down Aging Test for LED Lamps Under Temperature Stress".Ieee Transactions on Electron Devices 63.3(2016). |
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| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| The Design of Two-St（2301KB） | 期刊论文 | 作者接受稿 | 开放获取 | CC BY-NC-SA | 浏览 下载 | |
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