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Point defects in active layers of TFEL devices based on ZnS 期刊论文
Chinese Science Bulletin, 1998, 卷号: 43, 期号: 6, 页码: 518-522
作者:  Lou Z. D.;  Georgobiani A. N.;  Xu Z.;  Xu C. X.;  Teng F.;  Yu L.;  Xu X. R.
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