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用衍射仪测量等周期多层膜膜厚随机变化量的方法 (发明) 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2007-08-08, 公开日期: 2007-08-08
发明人:  杨雄;  姚志华;  张立超;  金卫华;  金春水
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粗糙度对极紫外投影光刻掩模的影响 期刊论文
光电工程, 2005, 期号: 10, 页码: 80-83
作者:  杨雄;  金春水;  姚志华;  曹健林
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极紫外投影光刻  掩模  粗糙度  反射光谱  多层膜  
X射线W/B_4C宽带多层膜的优化设计和制备 期刊论文
光学学报, 2005, 期号: 10, 页码: 139-141
作者:  姚志华;  金春水;  杨雄;  张立超;  金伟华;  曹健林
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X射线光学  宽带多层膜  评价函数  遗传算法  磁控溅射  
硬X射线梯度渐变多层膜设计 期刊论文
长春理工大学学报, 2004, 期号: 03, 页码: 80-83
作者:  姚志华;  金春水;  曹健林
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硬x射线梯度渐变多层膜  分析方法  数值解析方法  分堆栈法