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AlxGa1-xN和AlN/GaN材料的MOCVD生长与器件研究 学位论文
: 中国科学院大学, 2014
作者:  陈一仁
Adobe PDF(3909Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：983/1  |  提交时间：2014/08/21
双晶x射线衍射法测量超薄层外延材料厚度 期刊论文
半导体技术, 1999, 期号: 06, 页码: 45-46+58
作者:  曲轶;  高欣;  张宝顺;  薄报学;  张兴德
caj(56Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：393/65  |  提交时间：2013/03/11
双晶x射线衍射  超薄层厚度