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The Design of Two-Step-Down Aging Test for LED Lamps Under Temperature Stress
Hao, J.; Q. Sun; Z. J. Xu; L. Jing; Y. Wang and H. L. Ke
2016
发表期刊Ieee Transactions on Electron Devices
卷号63期号:3
文章类型期刊
收录类别SCI ; EI
语种英语
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/56956
专题中科院长春光机所知识产出
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GB/T 7714
Hao, J.,Q. Sun,Z. J. Xu,et al. The Design of Two-Step-Down Aging Test for LED Lamps Under Temperature Stress[J]. Ieee Transactions on Electron Devices,2016,63(3).
APA Hao, J.,Q. Sun,Z. J. Xu,L. Jing,&Y. Wang and H. L. Ke.(2016).The Design of Two-Step-Down Aging Test for LED Lamps Under Temperature Stress.Ieee Transactions on Electron Devices,63(3).
MLA Hao, J.,et al."The Design of Two-Step-Down Aging Test for LED Lamps Under Temperature Stress".Ieee Transactions on Electron Devices 63.3(2016).
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