Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 一种凹面光栅衍射效率测试仪的光路结构 (发明) | |
| 巴音贺希格; 寇婕婷; 吴娜; 唐玉国; 齐向东; 于宏柱; 朱文煜 | |
| 2012-04-11 | |
| 专利权人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 公开日期 | 2012-04-11 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 摘要 | 一种凹面光栅衍射效率测试仪的光路结构，属于光谱技术领域中涉及的一种凹面光栅衍射效率测试仪。要解决的技术问题是：提供一种凹面光栅衍射效率测试的光路结构。解决技术问题的技术方案是：包括光源外光路、前置单色仪、测量单色仪和控制器。在前置单色仪的壳体外侧，光源外光路的光经聚光镜反射，在入射狭缝处聚焦并入射到前置单色仪中，出射光…… |
| 资助项目 | 101995327B |
| 申请号 | 201010277331.1 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11842 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 巴音贺希格,寇婕婷,吴娜,等. 一种凹面光栅衍射效率测试仪的光路结构 (发明)[P]. 2012-04-11. |
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| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN201110199532700000（308KB） | 开放获取 | -- | 浏览 下载 | |||
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