中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

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	一种凹面光栅衍射效率测试仪的光路结构 (发明)
	巴音贺希格; 寇婕婷; 吴娜; 唐玉国; 齐向东; 于宏柱; 朱文煜
	2012-04-11
专利权人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期	2012-04-11
专利类型	发明专利
摘要	一种凹面光栅衍射效率测试仪的光路结构，属于光谱技术领域中涉及的一种凹面光栅衍射效率测试仪。要解决的技术问题是：提供一种凹面光栅衍射效率测试的光路结构。解决技术问题的技术方案是：包括光源外光路、前置单色仪、测量单色仪和控制器。在前置单色仪的壳体外侧，光源外光路的光经聚光镜反射，在入射狭缝处聚焦并入射到前置单色仪中，出射光……
资助项目	101995327B
申请号	201010277331.1
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11842
专题	中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	巴音贺希格,寇婕婷,吴娜,等. 一种凹面光栅衍射效率测试仪的光路结构 (发明)[P]. 2012-04-11.

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CN201110199532700000（308KB）			开放获取	--	浏览 下载

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