Changchun Institute of Optics,Fine Mechanics and Physics,CAS
| 一种光路对称分布的光栅衍射效率测试仪 (发明) | |
| 齐向东; 于宏柱; 巴音贺西格; 李文昊 | |
| 2008-01-02 | |
| 专利权人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 公开日期 | 2008-01-02 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 摘要 | 一种光路对称分布的光栅衍射效率测试仪，属于光谱技术领域中涉及的一种光栅衍射效率测试仪。本发明要解决的技术问题是：提供一种光路对称分布的光栅衍射效率测试仪。解决技术问题的技术方案是：本发明包括光源外光路、测量单色仪、控制系统。在测量单色仪的壳体外侧，在光源的光的传播方向置有反射聚光镜和平面反射镜，使经过它们的反射光线在入…… |
| 资助项目 | 100359299 |
| 申请号 | 200310109973.0 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11132 |
| 专题 | 中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 齐向东,于宏柱,巴音贺西格,等. 一种光路对称分布的光栅衍射效率测试仪 (发明)[P]. 2008-01-02. |
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| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN200400154241400000（572KB） | 开放获取 | -- | 浏览 下载 | |||
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