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一种精确测量大口径光学平面基自由曲面面形精度的方法 (发明) 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2012-07-11, 公开日期: 2012-08-29
发明人:  范镝
Adobe PDF(251Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：423/88  |  提交时间：2012/08/29