一种精确测量大口径光学平面基自由曲面面形精度的方法 (发明)

	一种精确测量大口径光学平面基自由曲面面形精度的方法 (发明)
	范镝
	2012-07-11
专利权人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期	2012-08-29
专利类型	发明专利
摘要	一种精确测量大口径光学平面基自由曲面面形精度的方法，涉及精确测量大口径光学平面基自由曲面面形精度的方法，它解决现有测量光学自由曲面的方法存在检测范围小、测量数度低、检测周期长，并且测量点是离散的、缺乏连续性，同时测量装置结构复杂、价格昂贵的问题，首先进行计算全息图的制造，根据被检平面基自由曲面的相关数据和离轴抛物镜的口……
资助项目	102564342A
申请号	201110439188.6
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/12201
专题	中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	范镝. 一种精确测量大口径光学平面基自由曲面面形精度的方法 (发明)[P]. 2012-07-11.