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光学成像系统光学波前的单焦面高精度测试方法 (发明) 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2011-11-23, 公开日期: 2012-08-29
发明人:  邵晶;  马冬梅;  聂真威;  刘金国;  郭永飞
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光学成像系统光学波前的高精度测试 期刊论文
光学 精密工程, 2011, 卷号: 19, 期号: 11, 页码: 2582-2588
作者:  马冬梅;  聂真威
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