中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

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	光学成像系统光学波前的单焦面高精度测试方法 (发明)
	邵晶; 马冬梅; 聂真威; 刘金国; 郭永飞
	2011-11-23
专利权人	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期	2012-08-29
专利类型	发明专利
摘要	光学成像系统光学波前的单焦面高精度测试方法，涉及一种光学测试技术领域，它解决现有相位恢复算法中出瞳振幅分布不均匀和快速傅里叶变换引入计算误差的问题，并且为消除图像采集过程中振动对检测精度产生的影响提供解决方案，其方法：搭建光学成像系统的检测平台；采用检测平台中的探测装置检测待测镜头的焦面位置，探测装置获得待测镜头的离焦……
资助项目	102252763A
申请号	201110095518.4
文献类型	专利
条目标识符	http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11980
专题	中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式 GB/T 7714	邵晶,马冬梅,聂真威,等. 光学成像系统光学波前的单焦面高精度测试方法 (发明)[P]. 2011-11-23.

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CN201110225276300000（338KB）			开放获取	--	浏览 下载

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