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扫描近场光学显微技术在半导体材料表征领域应用的研究进展 期刊论文
材料导报, 2014, 期号: 23, 页码: 28-33
作者:  陈芳;  魏志鹏;  刘国军;  唐吉龙;  房丹;  方铉;  高娴;  赵海峰;  王双鹏
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扫描近场光学显微技术  半导体材料  超高空间高分辨率  
结构函数在大口径光学系统评价中的应用 期刊论文
红外与激光工程, 2014, 期号: 11, 页码: 3832-3836
作者:  杨飞;  刘国军;  安其昌
caj(1258Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:309/61  |  提交时间:2015/04/17
大口径望远镜  斯特利尔比  结构函数  极大似然估计