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Analysis of origin of measured 1/f noise in high-power semiconductor laser diodes far below threshold current 期刊论文
Microelectronics Reliability, 2016, 卷号: 59
作者:  Guan, J.;  S. X. Guo;  J. Y. Wang;  M. Tao;  J. S. Cao and F. L. Gao
浏览  |  Adobe PDF(868Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：318/100  |  提交时间：2017/09/11