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X-ray photoelectron spectroscopy measurement of n-ZnO/p-NiO heterostructure valence-band offset 期刊论文
Applied Physics Letters, 2009, 卷号: 94, 期号: 2
作者:  Deng R.;  Yao B.;  Li Y. F.;  Zhao Y. M.;  Li B. H.;  Shan C. X.;  Zhang Z. Z.;  Zhao D. X.;  Zhang J. Y.;  Shen D. Z.;  Fan X. W.
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