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Noise as reliability screening for semiconductor lasers 期刊论文
Applied Physics B-Lasers and Optics, 2003, 卷号: 76, 期号: 4, 页码: 359-363
作者:  Guijun H.;  Jiawei S.;  Xiaosong Y.;  Jing L.
Adobe PDF(1545Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：259/17  |  提交时间：2012/10/21