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A New Stitching Method for Dark-Field Surface Defects Inspection Based on Simplified Target-Tracking and Path Correction 期刊论文
Sensors, 2020, 卷号: 20, 期号: 2, 页码: 19
作者:  X. Chen,J. Q. Li and Y. X. Sui
浏览  |  Adobe PDF(9050Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：84/30  |  提交时间：2021/07/06