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一种精确测量大口径光学平面基自由曲面面形精度的方法 专利
专利类型: 发明, 专利号: 201110439188.6, 申请日期: 2014-05-28, 公开日期: 2014-05-28
发明人:  范镝
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大口径碳化硅质反射镜数控光学加工的研究 学位论文
, 北京: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所, 2004
作者:  范镝
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