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基于MPPC光子计数统计的激光外差装置 (发明) 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2012-07-11, 公开日期: 2012-08-29
发明人:  张合勇;  赵帅;  王挺峰;  郭劲;  刘立生
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基于X射线衍射仪测量超光滑表面的方法 (发明) 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2012-03-21, 公开日期: 2012-03-21
发明人:  陈波;  王永刚
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