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基于X射线衍射仪测量超光滑表面的方法 (发明)
陈波; 王永刚
2012-03-21
专利权人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
公开日期2012-03-21
专利类型发明专利
摘要本发明涉及检测超光滑表面粗糙度的方法,特别是一种基于X射线衍射仪测量超光滑表面的方法,以波长λ小于4的X射线作为探测光束掠入射到置于样品台上的被测样品表面上,其掠入射角小于样品在X射线波段的全反射临界角。X射线衍射仪上的光子计数探测器以设定的间隔和速度旋转逐步扫描接收从样品表面反射出的散射光束,记录逐步的散射光强∏(θ……
资助项目101738407B
申请号200910218063.3
文献类型专利
条目标识符http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11701
专题中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
陈波,王永刚. 基于X射线衍射仪测量超光滑表面的方法 (发明)[P]. 2012-03-21.
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